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Österreichische Baunormen

Norm-Informationen:
Normdatenbank:
Dokumenten Nummer:
ÖVE/ÖNORM EN 61829
Klassifikation:
ST*N
Preisgruppe:
FM=8
Bezeichnung:
Photovoltaische (PV-) Modulgruppen aus kristallinem Silizium - Messen der Strom-/Spannungskennlinien am Einsatzort (IEC 61829:1995)
zitierte Normen:
II=IEC 61829 (1995) ,IDT*EN 61829 (1998 08) ,IDT
ersetzte Normen:
RX=OVE EN 61829 (2016 10 01)*OVE EN 61829 (2016 10 01)
identische Norm:
AS=
Registriert als:
AD=Diese Internationale Norm beschreibt Verfahren für das Messen der Kenngrößen von photovoltaischen (PV) Modulgruppen aus kristallinem Silizium am Einsatzort und für das Extrapolieren dieser Daten zu Standardprüfbedingungen (STC) oder andere ausgewählte
Autor:
Komitee E Elektrische Niederspannungsanlagen
Referenz:
PQ=Preisgruppe 7
übersetzt in:
de
english text:
Crystalline silicon photovoltaic (PV) array - On-site measurement of I-V characteristics (IEC 61829:1995)
Description:
CT=Photovoltaik*Modulgruppe*PV-Modulgruppe*Modul*Silizium*Silicium*Strom-/Spannungskennlinie*Einsatzort*Niederspannung*Meßverfahren*Ausrüstung*Genauigkeit*Abbildung*Elektrotechnik*Messverfahren
francoise:
Champ de modules photovoltaiques (PV) au silicium cristallin - Mesure sur site des caractéristiques I-V (CEI 61829:1995)
Normdatenbank:
Dokumenten Nummer:
ÖVE/ÖNORM EN 61829
Klassifikation:
DC*N-E
Preisgruppe:
13
Bezeichnung:
zitierte Normen:
II=IEC 82/693/CDV (2012 02) ,IDT*EN 61829 (2012 02) ,IDT
ersetzte Normen:
OVE EN 61829 (2016 10 01)*OVE EN 61829 (2016 10 01)
identische Norm:
Registriert als:
Autor:
Komitee E Elektrische Niederspannungsanlagen
Referenz:
Preisgruppe 3203
übersetzt in:
en
english text:
Crystalline silicon photovoltaic (PV) array - On-site measurement of I-V characteristics (IEC 82/693/CDV)
Description:
Photovoltaik*Modulgruppe*PV-Modulgruppe*Modul*Silizium*Silicium*Strom-/Spannungskennlinie*Einsatzort*Niederspannung*Meßverfahren*Ausrüstung*Genauigkeit*Abbildung*Elektrotechnik*kristallin*Kennlinie*Strom*Spannung*in situ
francoise:
Champ de modules photovoltaiques (PV) au silicium cristallin - Mesure sur site des caractéristiques I-V (CEI 82/693/CDV)